Висувний EDS детектор Tescan Essence, повністю інтегрований в програмне забезпечення скануючого електронного мікроскопа TESCAN VEGA Compact, (гарантована роздільна здатність MnKα-129eV, з 30 мм2 детектором) або еквівалент
Замовник: Інститут проблем матеріалознавства ім.І.М.Францевича Національної академії наук України